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| 照度・輝度・放射照度計用各プローブ／ 品番 MC8LP-582PHOTS | 【詳細表示】 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 商品番号 | MC8LP-582PHOTS | 価 格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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照度・輝度・放射照度計用各プローブ |
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| ■特長 照度・輝度・放射照度計 MC8HD3213-11S/21S、及び MC8HD3413-01S/-00Sで使用可能な照度、輝度、PAR（光合成有効放射）、放射照度測定用のプローブです。  MC8LP-582シリーズはVIS-NIR、UVA、UVB、UVCのスペクトル領域において、光および放射量を、照度（lux）または放射照度（W/m2）として測定します。また、400～700nmの光合成有効放射（PAR）波長域において、単位時間、単位面積当りの光量子数の測定も可能です。 MC8LP-582シリーズは外部電源供給を必要としません。 mVによる出力信号がフォトダイオード端末のシャント抵抗を介して得られます。フォトダイオードが受光したときに発生する光電流が電位差に変換され、電圧計で読み取られます。PD（電位差）が読み取られると、校正係数（出力係数）によって測定値が計算されます。 各プローブは出荷前に工場で校正され、それぞれ固有の校正係数（出力係数）を持っています。この係数は個々のプローブおよび付属の取扱説明書に表記されています。 MC8LP-582リーズのプローブは余弦則補正ディフューザを備えています。UV測定用のプローブではディフューザは研磨水晶製、他のプローブはアクリル材またはテフロン製（MC8LP-582PHOTS）です。 MC8LP-582シリーズのプローブは上記の光、放射量の絶え間ないモニタが必要な屋内での測定を目的に設計されています。 MC8LP-582PHOTSは照度測定値をModbus-RTUで出力します（電源要）。 ■タイプ ●MC8LP-582PHOTS MC8LP-582PHOTSは、面に入射する光束（ルーメン）と単位面積（m2）の比として定義される照度（lux）を測定します。 光測定プローブのスペクトル応答カーブは、標準明所視カーブV（λ）として知られている人間の目の応答カーブに近似しています。スペクトル応答におけるMC8LP-582PHOTSと標準明所視カーブv（λ）の差は誤差f'₁で計算されます。 プローブの校正は一次度量衡標準機関の校正を受けた照度計との比較によって行われます。校正要領はCIE文書No.69（1987）"Method of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters"に準拠しています。校正はプローブを標準光Aで照射して行います。  ●MC8LP-582PARS MC8LP-582PARSは、400～700nmのスペクトル範囲において、1秒間に面に入射する光量子数と、単位面積（m2）の比を測定します。この量はPAR、光合成有効放射として定義されます。 プローブの校正はハロゲンランプを使用して、特定のスペクトル範囲の、既知のスペクトル放射によって行います。プローブのスペクトル応答はわずかに温度の影響を受けます。 ディフューザとプローブの特別な構造により、余弦則補正される、ディフューザへの入射角の変化に対しても応答します。  ●MC8LP-582LUm2S 輝度、明所視曲線に従ったスペクトル応答、視野角 2°を測定するための測光プローブ。 測定範囲：1.0 cd/m2～2000·10³ cd/m2  ●MC8LP-582RADS MC8LP-582RADSは、VIS-NIRスペクトル範囲（400～1050nm）において、面に入射する放射フラックス（W）と単位面積（m2）の比として定義される放射照度（W/m2）を測定します。これらの特長は可視および近赤外領域の測定に適した測定器に適用されます。 プローブの校正は、スペクトル干渉フィルタを通した、Xe-Hg（キセノン-水銀）ランプの577/579nmラインを使用して行います。  ●MC8LP-582UVAS MC8LP-582UVASは、UVAスペクトル範囲（315～400nm）において、面に入射する放射フラックス（W）と単位面積（m2）の比として定義される放射照度（W/m2）を測定します。 新しいフォトダイオードの採用により、MC8LP-582UVASは可視および赤外光に対して不感です。 プローブの校正は、スペクトル干渉フィルタを通した、Xe-Hg（キセノン-水銀）ランプの365nmラインを使用して行います。 測定はセンセカ校正センターがに充てられた一次標準との比較によって行われます。 このプローブは、樹脂や接着剤の重合、日焼けランプなど、UVランプの発光をモニターする必要のあるすべてのプロセスで使用できます。  ●MC8LP-582UVBS MC8LP-582UVBSは、UVBスペクトル範囲（280～315nm）において、面に入射する放射フラックス（W）と単位面積（m2）の比として定義される放射照度（W/m2）を測定します。新しいフォトダイオードの採用により、MC8LP-582UVBSは可視および赤外光に対して不感です。 プローブの校正は、スペクトル干渉フィルタを通した、Xe-Hg（キセノン-水銀）ランプの313nmラインを使用して行います。測定はセンセカ校正センターに充てられた一次標準との比較によって行われます。 主な用途はフォトセラピー（殺菌灯）です。  ●MC8LP-582UVCS MC8LP-582UVCSは、UVCスペクトル範囲（220～280nm）において、面に入射する放射フラックス（W）と単位面積（m2）の比として定義される放射照度（W/m2）を測定します。 新しいフォトダイオードの採用により、MC8LP-582UVC01は可視および赤外光に対して不感です。 プローブの校正は254nmのHgランプからの放射照度を測定することによって行います。  ●MC8LP-582PAS 標準明所応答による照度(ルクス)とUVAスペクトル範囲(315～400nm、ピークは360nm)の放射照度(μW/cm2)を測定する複合プローブ。 両方のセンサーには、余弦法則に従って補正するための拡散器が装備されています。 照度測定範囲：0.10ルクス～200·103ルクス。 放射照度測定範囲：1.0mW/m2～2000W/m2。 このプローブは、UVA放射照度と照度(博物館で関心のある量)の比率をμW/ルーメンで提供します。CIE157。  ●MC8LP-582SLCNPYRAS 全天日射量を測定するシリコンフォトダイオード付き日射計、コサイン補正用ディフューザー。 スペクトル範囲:400～1100nm。 測定範囲:1mW/m2～2000W/m2。固定ケーブル長さ5m、SICRAMモジュール付き。  ●MC8LP-582AUVEFFS MC8LP-582AUVEFFSは、UV作用曲線(CEIEN60335-2-27)に従って重み付けされた総有効放射照度(W/m2)を測定します。 プローブは2つのセンサーで構成されており、センサーの信号を組み合わせて重み付けすることで、正確なスペクトル応答が得られます。2つのプローブには、コサイン法則に従って正確に測定するための拡散器が装備されています。 プローブは次のデータを提供します。 総有効放射照度（Eeff）-測定範囲：0.01W/m2～20W/m2。 UV-CB範囲の有効放射照度-測定範囲:0.01W/m2～20W/m2 UVAスペクトルの放射照度–測定範囲:0.1W/m2～2000W/m2 MC8LP-582AUVEFFSを化粧品日焼けシステムの制御に使用すると、最初のセッションの照射時間(有効照射量を100J/m2に設定)と年間の合計照射時間(確立された最大照射量限度は年間15kJ/m2)を簡単に決定でき、セッションごとに受ける照射量を計算することもできます。 また、日焼け室の照射量を定期的に測定することで、ランプの劣化状態を確認することもできます。  ●MC8LP-582BLUES MC8LP-582BLUESは、青色光のスペクトル範囲内の放射照度(W/m2)を測定します。 プローブは適切なフィルターを備えたフォトダイオードで構成されており、余弦法則に従って正確に測定するための拡散器が備えられています。 測定範囲:1mW/m2～2000W/m2。ケーブル長2m。 プローブのスペクトル応答曲線により、380nmから550nmのスペクトル範囲で青色光ハザードの有効放射照度(ACGIH/ICNIRP規格による曲線B(λ))を測定できます。 この範囲の光放射は、光化学的網膜損傷を引き起こす可能性があります。 別の応用分野としては、新生児黄疸の治療における青色光放射照度のモニタリングがあります。  ●MC8LP-582PYRAプローブは、SICRAM モジュールを搭載した日射計MC8LP-582PYRA03、MC8LP-582PYRA02、またはMC8LP-582PYRA10と、日射計を計測器に接続するための 5m または 10m ケーブルで構成されており、計測器のディスプレイに W/m2単位の読み取り値を直接表示します。 MC8LP-582PYRA03はスペクトルフラットクラス C (第 2 クラス) 日射計、MC8LP-582PYRA02はスペクトルフラットクラス B (第 1 クラス) 日射計、MC8LP-582PYRA10はスペクトルフラットクラス A (第 2 標準) で、すべて ISO 9060:2018 に準拠しています。機器には校正レポートが付属しています。 MC8LP-582PYRAの SICRAMモジュールには、日射計と同じシリアル番号が表示され、その設定では日射計の校正レポートに示されている感度が考慮されるため、同じモジュールを使用して異なる日射計で測定を実行することはできません。
■仕様
■オプション
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運賃、および消費税は、記載価格には、含まれていません。
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